Bouaoune Sara Guendouz Salima, Soual Djihed
(Faculté des Sciences et Technologies, 2015-06-09)
La microscopie à force atomique (AFM) est un instrument de mesure ou d’analyse à haute
résolution, qui permet d’analyser la surface d’un matériau rigide ; et d’observer des échantillons
conducteurs ou non du courant ...