L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)

dc.contributor.author	Allouache, Samir
dc.date.accessioned	2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.available	2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.issued	2013
dc.identifier.uri	https://dspace.univ-bba.dz:443/xmlui/handle/123456789/731
dc.description.abstract	Résumé Dans notre travail, nous présentons les notions de diffusion et de réaction chimique à l’état solide dans les systèmes à couches minces binaires M1/Si et ternaires M1/M2/Si. Nous formulons les principes des techniques de caractérisation utilisées : à savoir la rétrodiffusion de particules alpha (RBS) et la caractérisation électrique courant-tension I(V). Et enfin on obtient des résultats expérimentaux et leur interprétation.	en_US
dc.language.iso	fr	en_US
dc.publisher	Faculté des Sciences et Technologies	en_US
dc.relation.ispartofseries	;EM/M/2013/01
dc.subject	diffusion, couche mince, RBS, I(V).	en_US
dc.title	L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)	en_US
dc.type	Thesis	en_US