Dépôt Institutionnel de l'Université BBA

Design and implementation of an intelligent universal electronic components’ tester

Afficher la notice abrégée

dc.contributor.author CHERFAOUI Mehdi, CHOUITER Fouad
dc.date.accessioned 2023-09-13T09:29:24Z
dc.date.available 2023-09-13T09:29:24Z
dc.date.issued 2023-06
dc.identifier.uri https://dspace.univ-bba.dz:443/xmlui/handle/123456789/3825
dc.description.abstract We designed and implemented a universal intelligent components' tester. The hardware and software solutions enable accurate testing and analysis of various electronic components. The tester demonstrates reliable and fast performance in measuring resistance, capacitance, and transistor types. The integration of an Arduino microcontroller and CD4052 analog multiplexer allows for flexible control and expanded measurement range. Challenges such as pin limitations and power source requirements are effectively addressed. The universal intelligent components' tester provides a valuable tool for engineers and electronics enthusiasts, offering efficient testing capabilities and contributing to the advancement of electronic component analysis. Nous avons concun et réalisé un testeur universel de composants intelligent. Les solutions matérielles et logicielles permettent une analyse et une mesure précises de divers composants électroniques. Le testeur démontre des performances fiables et rapides dans la mesure de la résistance, de la capacité et des types de transistors. L'intégration d'un microcontrôleur Arduino et d'un multiplexeur analogique CD4052 permet un contrôle flexible et une plage de mesure étendue. Les défis liés aux limitations de broches et aux besoins en alimentation sont efficacement résolus. Le testeur universel intelligent de composants offre un outil précieux aux étudiants et aux passionnés d'électronique, offrant des capacités de test efficaces et contribuant à l'avancement de l'analyse des composants électroniques en_US
dc.language.iso en en_US
dc.relation.ispartofseries ;EL/L/2023/19
dc.title Design and implementation of an intelligent universal electronic components’ tester en_US
dc.type Thesis en_US


Fichier(s) constituant ce document

Ce document figure dans la(les) collection(s) suivante(s)

Afficher la notice abrégée

Chercher dans le dépôt


Parcourir

Mon compte