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dc.contributor.author |
SID AHMED Soumia |
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dc.date.accessioned |
2024-10-23T11:08:06Z |
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dc.date.available |
2024-10-23T11:08:06Z |
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dc.date.issued |
2017-01-09 |
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dc.identifier.uri |
https://dspace.univ-bba.dz:443/xmlui/handle/123456789/5663 |
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dc.description.abstract |
L’objectif principal de cette thèse consiste à participer à l’état de l’art relatif au
débruitage des images acquises par le microscope électronique, notamment en
proposant un nouvel algorithme de débruitage d'images à multicopie bruitées via la
transformée en contourlettes et sa variante la transformée en contourlettes avec
localisation par fréquences saillantes SD. Après avoir exposé les limitations des
filtres séparables et la Transformée en Ondelettes pour la suppression du bruit, nous
avons mis en place des débruiteurs à base d'estimateurs bayésiens dans le domaine
des CT et CTSD, en mettant à profit les statistiques marginales des coefficients des
images dans des représentations multi-échelles et multi-directionelles. Ces lois
marginales ont été analytiquement modélisées par le biais de la distribution α-stable.
Dans l’optique d’analyser des comportements des algorithmes développés pour le
débruitage, nous avons, au cours de cette thèse, travaillé sur des images provenant
des échantillons préparés et observées de façon différente dans des conditions de
temps d’acquisition standard au TEM. Evidemment, lorsque le temps d’exposition
diminue afin de réduire le dommage induit par les électrons sur l’échantillon, le SNR
également diminue indépendamment du type de préparation ou du mode
d’observation. En effet, un des objectifs de notre travail, dans le cas de multicopie
bruitée, était de réduire le temps d’exposition sans pour autant détériorer la qualité
de l’image acquise. L’évaluation et l'étude comparative détaillée, établie entre la
méthode développée et les différents débruiteurs déjà proposés dans la littérature, a
montré que la nouvelle méthode se révèle plus performante en termes du SNR et
qualité visuelle. La réduction du temps d'exposition dans l'acquisition des images
EM, a été atteinte avec succès.
able. |
en_US |
dc.language.iso |
fr |
en_US |
dc.publisher |
faculté des sciences et de la technologie* univ bba |
en_US |
dc.relation.ispartofseries |
Département d'Electronique;EL/Doc/2017 |
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dc.subject |
Microscopie Electronique à Transmission, EFTEM, Contourlet, Débruitage d'image, Transformée Multi-échelles, Estimation Bayésienne, Distribution α-st |
en_US |
dc.title |
DÉBRUITAGE DES IMAGES EN TOMOGRAPHIE ÉLECTRONIQUE EN MODE ‘EFTEM’ |
en_US |
dc.type |
Thesis |
en_US |
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