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L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)

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dc.contributor.author Allouache, Samir
dc.date.accessioned 2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.available 2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.issued 2013
dc.identifier.uri https://dspace.univ-bba.dz:443/xmlui/handle/123456789/731
dc.description.abstract Résumé Dans notre travail, nous présentons les notions de diffusion et de réaction chimique à l’état solide dans les systèmes à couches minces binaires M1/Si et ternaires M1/M2/Si. Nous formulons les principes des techniques de caractérisation utilisées : à savoir la rétrodiffusion de particules alpha (RBS) et la caractérisation électrique courant-tension I(V). Et enfin on obtient des résultats expérimentaux et leur interprétation. en_US
dc.language.iso fr en_US
dc.publisher Faculté des Sciences et Technologies en_US
dc.relation.ispartofseries ;EM/M/2013/01
dc.subject diffusion, couche mince, RBS, I(V). en_US
dc.title L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100) en_US
dc.type Thesis en_US


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