Résumé:
La microscopie à force atomique (AFM) est un instrument de mesure ou d’analyse à haute
résolution, qui permet d’analyser la surface d’un matériau rigide ; et d’observer des échantillons
conducteurs ou non du courant électrique ainsi que celle de surfaces molles.
Elle est aussi très fiable lorsque la sonde (la pointe) est correctement choisie et que tous les
paramètres de mise en marche sont optimisés aussi.
L'AFM, permet de descendre à très basse échelle, malgré sa nécessité d’ un temps d'analyse
plus long , non négligeable par rapport aux autres techniques de microscopie mais on peut dire
qu’elle est toujours en développement , pour améliorer la rapidité des images topographique soit
2D et 3D.
