Caractérisation des FSS planaires a substrat et superstrat diélectrique isotopique et anisotropique par COMSOL
dc.contributor.author | Dans cette étude de Master, une antenne reconfigurable à micro-ruban excitée avec une ligne micro-ruban est réalisée. L'antenne se compose de quatre patchs séparés et connectés à trois commutateurs à base de diodes PIN. La reconfigurabilité en fréquence est assurée en agissant séparément sur les trois diodes donnant lieu à huit modes primaires. Ensuite, les huit modes sont réduits à deux modes de fonctionnement correspondant au fonctionnement bi- et tri-bande et les paramètres caractéristiques sont obtenus à l'aide du logiciel électromagnétique HFSS. Des suggestions pour une étude plus approfondie ont été faites à la fin du manuscrit. | |
dc.date.accessioned | 2022-11-14T08:05:41Z | |
dc.date.available | 2022-11-14T08:05:41Z | |
dc.date.issued | 2022-06-22 | |
dc.description.abstract | Les surfaces sélectives en fréquence sont l'une des structures planaire les plus importantes, utilisées dans la conception de systèmes multifréquences, et Il a occupé une grande place dans la recherche des scientifiques ces dernières années, grâce à sa structure d'ingénierie qui lui permet d'améliorer ses propriétés à chaque fois. Dans cette mémoire, le logiciel numérique COMSOL Multiphysics 5.6 a été utilisé pour étudier et simuler les caractéristiques du FSS telles que la bande passante et la fréquence de résonance lorsque la structure est à une ou plusieurs couches de substrat diélectrique ou superstrat et leur effet sur ces propriétés, en plus étude l'effet du milieu isotrope ou anisotrope sur les caractéristiques précitées. | en_US |
dc.identifier.uri | http://10.10.1.6:4000/handle/123456789/2403 | |
dc.language.iso | fr | en_US |
dc.publisher | faculté des sciences et de la technologie univ bba | en_US |
dc.relation.ispartofseries | ;EL/M/2022/22 | |
dc.title | Caractérisation des FSS planaires a substrat et superstrat diélectrique isotopique et anisotropique par COMSOL | en_US |
dc.type | Thesis | en_US |