DÉBRUITAGE DES IMAGES EN TOMOGRAPHIE ÉLECTRONIQUE EN MODE ‘EFTEM’

dc.contributor.authorSID AHMED Soumia
dc.date.accessioned2024-10-23T11:08:06Z
dc.date.available2024-10-23T11:08:06Z
dc.date.issued2017-01-09
dc.description.abstractL’objectif principal de cette thèse consiste à participer à l’état de l’art relatif au débruitage des images acquises par le microscope électronique, notamment en proposant un nouvel algorithme de débruitage d'images à multicopie bruitées via la transformée en contourlettes et sa variante la transformée en contourlettes avec localisation par fréquences saillantes SD. Après avoir exposé les limitations des filtres séparables et la Transformée en Ondelettes pour la suppression du bruit, nous avons mis en place des débruiteurs à base d'estimateurs bayésiens dans le domaine des CT et CTSD, en mettant à profit les statistiques marginales des coefficients des images dans des représentations multi-échelles et multi-directionelles. Ces lois marginales ont été analytiquement modélisées par le biais de la distribution α-stable. Dans l’optique d’analyser des comportements des algorithmes développés pour le débruitage, nous avons, au cours de cette thèse, travaillé sur des images provenant des échantillons préparés et observées de façon différente dans des conditions de temps d’acquisition standard au TEM. Evidemment, lorsque le temps d’exposition diminue afin de réduire le dommage induit par les électrons sur l’échantillon, le SNR également diminue indépendamment du type de préparation ou du mode d’observation. En effet, un des objectifs de notre travail, dans le cas de multicopie bruitée, était de réduire le temps d’exposition sans pour autant détériorer la qualité de l’image acquise. L’évaluation et l'étude comparative détaillée, établie entre la méthode développée et les différents débruiteurs déjà proposés dans la littérature, a montré que la nouvelle méthode se révèle plus performante en termes du SNR et qualité visuelle. La réduction du temps d'exposition dans l'acquisition des images EM, a été atteinte avec succès. able.en_US
dc.identifier.urihttp://10.10.1.6:4000/handle/123456789/5663
dc.language.isofren_US
dc.publisherfaculté des sciences et de la technologie* univ bbaen_US
dc.relation.ispartofseriesDépartement d'Electronique;EL/Doc/2017
dc.subjectMicroscopie Electronique à Transmission, EFTEM, Contourlet, Débruitage d'image, Transformée Multi-échelles, Estimation Bayésienne, Distribution α-sten_US
dc.titleDÉBRUITAGE DES IMAGES EN TOMOGRAPHIE ÉLECTRONIQUE EN MODE ‘EFTEM’en_US
dc.typeThesisen_US

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