Diagnostic de défauts combinant des méthodes à base de modèles et de données appliquée aux panneaux photovoltaïques

Abstract

Comme tout processus industriel, un système photovoltaïque peut être soumis, au cours de son fonctionnement, à différents défauts et anomalies conduisant à une baisse de la performance du système et voire à son indisponibilité. Permettre de diagnostiquer finement et de faire la détection et la localisation de défauts dans une installation PV réduit les coûts de maintenance et surtout augmente la productivité c’est le travail présenté dans ce mémoire, par l’utilisation d’un nombre limité de capteurs de tension et la méthode l’analyse de la caractéristique I-V. Parmi les défauts connus, on a basé sur les défauts d’ombrages et l’augmentation la résistance