LA MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE (AFM )
| dc.contributor.author | Bouaoune Sara Guendouz Salima, Soual Djihed | |
| dc.date.accessioned | 2021-07-08T11:19:09Z | |
| dc.date.available | 2021-07-08T11:19:09Z | |
| dc.date.issued | 2015-06-09 | |
| dc.description.abstract | La microscopie à force atomique (AFM) est un instrument de mesure ou d’analyse à haute résolution, qui permet d’analyser la surface d’un matériau rigide ; et d’observer des échantillons conducteurs ou non du courant électrique ainsi que celle de surfaces molles. Elle est aussi très fiable lorsque la sonde (la pointe) est correctement choisie et que tous les paramètres de mise en marche sont optimisés aussi. L'AFM, permet de descendre à très basse échelle, malgré sa nécessité d’ un temps d'analyse plus long , non négligeable par rapport aux autres techniques de microscopie mais on peut dire qu’elle est toujours en développement , pour améliorer la rapidité des images topographique soit 2D et 3D. | en_US |
| dc.identifier.uri | http://10.10.1.6:4000/handle/123456789/901 | |
| dc.language.iso | fr | en_US |
| dc.publisher | Faculté des Sciences et Technologies | en_US |
| dc.relation.ispartofseries | ;SM/L/CH/2015/05 | |
| dc.title | LA MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE (AFM ) | en_US |
| dc.type | Thesis | en_US |