Etude par spectrométrie Raman du désordre dans l’InP dopé par implantation ionique

dc.contributor.authorZakaria, BOUNAB
dc.date.accessioned2021-06-23T09:11:04Z
dc.date.available2021-06-23T09:11:04Z
dc.date.issued2020-10-13
dc.description.abstractL‟objectif de ce travail est l‟étude du désordre induit par implantation ionique dans le phosphure d‟indium (InP). La technique utilisée est la spectrométrie Raman qui s‟avère bien adaptée pour ce genre d‟étude à travers la sensibilité de ses paramètres. Cette étude a permis de déterminer le flux critique d‟ions implantés pour la destruction totale du réseau (phénomène d‟amorphisation) et d‟estimer également la température de recuit pour la guérison du matériau.en_US
dc.identifier.urihttp://10.10.1.6:4000/handle/123456789/679
dc.language.isofren_US
dc.publisherFaculté des Sciences et Technologiesen_US
dc.relation.ispartofseries;SM/M/PH/2020/05
dc.titleEtude par spectrométrie Raman du désordre dans l’InP dopé par implantation ioniqueen_US
dc.typeThesisen_US

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