Caractérisation d’une hétérostructure réalisée par la méthode Sol-Gel

Abstract

Ce mémoire porte sur l’étude de caractérisation des hétérostructures cristallisées élaborées par voie sol-gel et analysée par la technique de diffraction des rayons X. Les hétérostructures multicouches représentent aujourd’hui un domaine de recherche important en science des matériaux en raison de leurs applications dans l’électronique, l’optoélectronique et les dispositifs énergétiques. La qualité structurale des interfaces entre les différentes couches constitue un paramètre essentiel influençant les propriétés physiques et fonctionnelles de ces matériaux. Dans ce travail, nous avons abordé une analyse bibliographique approfondie sur ce domaine afin de comprendre le mécanisme de formation des couches minces et le rôle des interfaces dans le comportement global du matériau.