L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)
Date
2013
Authors
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Publisher
Faculté des Sciences et Technologies
Abstract
Résumé
Dans notre travail, nous présentons les notions de diffusion et de réaction chimique à l’état solide dans les systèmes à couches minces binaires M1/Si et ternaires M1/M2/Si. Nous formulons les principes des techniques de caractérisation utilisées : à savoir la rétrodiffusion de particules alpha (RBS) et la caractérisation électrique courant-tension I(V). Et enfin on obtient des résultats expérimentaux et leur interprétation.
Description
Keywords
diffusion, couche mince, RBS, I(V).