L’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)

dc.contributor.authorAllouache, Samir
dc.date.accessioned2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.available2021-06-27T09:58:24Z
dc.date.issued2013
dc.description.abstractRésumé Dans notre travail, nous présentons les notions de diffusion et de réaction chimique à l’état solide dans les systèmes à couches minces binaires M1/Si et ternaires M1/M2/Si. Nous formulons les principes des techniques de caractérisation utilisées : à savoir la rétrodiffusion de particules alpha (RBS) et la caractérisation électrique courant-tension I(V). Et enfin on obtient des résultats expérimentaux et leur interprétation.en_US
dc.identifier.urihttp://10.10.1.6:4000/handle/123456789/731
dc.language.isofren_US
dc.publisherFaculté des Sciences et Technologiesen_US
dc.relation.ispartofseries;EM/M/2013/01
dc.subjectdiffusion, couche mince, RBS, I(V).en_US
dc.titleL’effet de recuit thermique sur les propriétés physico-chimiques et électriques des systèmes Cu/Au/Si(111) et Cu/Au/Si(100)en_US
dc.typeThesisen_US

Files

Original bundle

Now showing 1 - 1 of 1
Thumbnail Image
Name:
Page de garde.pdf
Size:
185.86 KB
Format:
Adobe Portable Document Format
Description:

License bundle

Now showing 1 - 1 of 1
No Thumbnail Available
Name:
license.txt
Size:
1.71 KB
Format:
Item-specific license agreed to upon submission
Description: