Résumé:
Dans ce travail, nous étudions les caractéristiques des couches minces d’oxyde de cuivre de Cu2O (obtenu par méthode électrodéposition) et de CuO (obtenu par effet de recuit) sur un substrat d’ITO, afin de les comparer. Tout d’abord, nous avons étudié les mécanismes de l'électrodéposition du Cu2O en utilisant les techniques de la voltamétrie cyclique et la chronoampérométrie.
Les résultats obtenus à partir des caractérisations utiliser: Spectroscopie d’impédance électrochimique (SIE), mesure de photocourant (PC), mesure de Mott-Schottky, Caractérisations morphologiques par la microscopie à force atomique (AFM), caractérisations morphologiques par la microscopie électronique à balayage (MEB) et la spectroscopie UV-Visible, ils montré que les deux oxydes ont le caractère de semi-conducteur de type p et ont des propriétés structurales, optiques, morphologiques et photoélectrochimiques différentes, prometteuses pour les applications photovoltaïques.
